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技術(shù)常識(shí)

無(wú)損探傷常見(jiàn)問(wèn)答

來(lái)源:時(shí)代集團(tuán) 發(fā)布日期:2011-12-27 16:25:29

一、什么是無(wú)損探傷?
      答:無(wú)損探傷是在不損壞工件或原材料工作狀態(tài)的前提下,對(duì)被檢驗(yàn)部件的表面和內(nèi)部質(zhì)量進(jìn)行檢查的一種測(cè)試手段。

二、常用的探傷方法有哪些? 
      答:常用的無(wú)損探傷方法有:X光射線探傷、超聲波探傷、磁粉探傷、滲透探傷、渦流探傷、γ射線探傷、螢光探傷、著色探傷等方法。

三、試述磁粉探傷的原理? 
      答:它的基本原理是:當(dāng)工件磁化時(shí),若工件表面有缺陷存在,由于缺陷處的磁阻增大而產(chǎn)生漏磁,形成局部磁場(chǎng),磁粉便在此處顯示缺陷的形狀和位置,從而判斷缺陷的存在。

四、試述磁粉探傷的種類? 
      答:
      1、按工件磁化方向的不同,可分為周向磁化法、縱向磁化法、復(fù)合磁化法和旋轉(zhuǎn)磁化法。 
      2、按采用磁化電流的不同可分為:直流磁化法、半波直流磁化法、和交流磁化法。 
      3、按探傷所采用磁粉的配制不同,可分為干粉法和濕粉法。

五、磁粉探傷的缺陷有哪些? 
      答:磁粉探傷設(shè)備簡(jiǎn)單、操作容易、檢驗(yàn)迅速、具有較高的探傷靈敏度,可用來(lái)發(fā)現(xiàn)鐵磁材料鎳、鈷及其合金、碳素鋼及某些合金鋼的表面或近表面的缺陷;它適于薄壁件或焊縫表面裂紋的檢驗(yàn),也能顯露出一定深度和大小的未焊透缺陷;但難于發(fā)現(xiàn)氣孔、夾碴及隱藏在焊縫深處的缺陷。

六、缺陷磁痕可分為幾類? 
      答:
      1、各種工藝性質(zhì)缺陷的磁痕; 
      2、材料夾渣帶來(lái)的發(fā)紋磁痕; 
      3、夾渣、氣孔帶來(lái)的點(diǎn)狀磁痕。

七、試述產(chǎn)生漏磁的原因?
      答:由于鐵磁性材料的磁率遠(yuǎn)大于非鐵磁材料的導(dǎo)磁率,根據(jù)工件被磁化后的磁通密度B=μH來(lái)分析,在工件的單位面積上穿過(guò)B根磁線,而在缺陷區(qū)域的單位面積 上不能容許B根磁力線通過(guò),就迫使一部分磁力線擠到缺陷下面的材料里,其它磁力線不得不被迫逸出工件表面以外出形成漏磁,磁粉將被這樣所引起的漏磁所吸引。

八、試述產(chǎn)生漏磁的影響因素? 
      答:
      1、缺陷的磁導(dǎo)率:缺陷的磁導(dǎo)率越小、則漏磁越強(qiáng)。 
      2、磁化磁場(chǎng)強(qiáng)度(磁化力)大?。捍呕υ酱?、漏磁越強(qiáng)。 
      3、被檢工件的形狀和尺寸、缺陷的形狀大小、埋藏深度等:當(dāng)其他條件相同時(shí),埋藏在表面下深度相同的氣孔產(chǎn)生的漏磁要比橫向裂紋所產(chǎn)生的漏磁要小。

九、某些零件在磁粉探傷后為什么要退磁? 
      答:某些轉(zhuǎn)動(dòng)部件的剩磁將會(huì)吸引鐵屑而使部件在轉(zhuǎn)動(dòng)中產(chǎn)生摩擦損壞,如軸類軸承等。某些零件的剩磁將會(huì)使附近的儀表指示失常。因此某些零件在磁粉探傷后為什么要退磁處理。

十、超聲波探傷的基本原理是什么? 
      答:超聲波探傷是利用超聲能透入金屬材料的深處,并由一截面進(jìn)入另一截面時(shí),在界面邊緣發(fā)生反射的特點(diǎn)來(lái)檢查零件缺陷的一種方法,當(dāng)超聲波束自零件表面由探頭通至金屬內(nèi)部,遇到缺陷與零件底面時(shí)就分別發(fā)生反射波來(lái),在螢光屏上形成脈沖波形,根據(jù)這些脈沖波形來(lái)判斷缺陷位置和大小。

十一、超聲波探傷與X射線探傷相比較有何優(yōu)的缺點(diǎn)? 
      答:超聲波探傷比X射線探傷具有較高的探傷靈敏度、周期短、成本低、靈活方便、效率高,對(duì)人體無(wú)害等優(yōu)點(diǎn);缺點(diǎn)是對(duì)工作表面要求平滑、要求富有經(jīng)驗(yàn)的檢驗(yàn)人員才能辨別缺陷種類、對(duì)缺陷沒(méi)有直觀性;超聲波探 傷適合于厚度較大的零件檢驗(yàn)。

十二、超聲波探傷的主要特性有哪些? 
      答:1、超聲波在介質(zhì)中傳播時(shí),在不同質(zhì)界面上具有反射的特性,如遇到缺陷,缺陷的尺寸等于或大于超聲波波長(zhǎng)時(shí),則超聲波在缺陷上反射回來(lái),探傷儀可將反射波顯示出來(lái);如缺陷的尺寸甚至小于波長(zhǎng)時(shí),聲波將繞過(guò)射線而不能反射; 2、波聲的方向性好,頻率越高,方向性越好,以很窄的波束向介質(zhì)中輻射,易于確定缺陷的位置。3、超聲波的傳播能量大,如頻率為1MHZ(100赫茲)的超生波所傳播的能量,相當(dāng)于振幅相同而頻率為1000HZ(赫茲)的聲波的100萬(wàn)倍。

十三、超生波探傷板厚14毫米時(shí),距離波幅曲線上三條主要曲線的關(guān)系怎樣? 
      答:
      測(cè)長(zhǎng)線 Ф1 х 6 -12dB 
      定量線 Ф1 х 6 -6dB 
      判度線 Ф1 х 6 -2dB

十四、何為射線的“軟”與“硬”? 
      答:X射線穿透物質(zhì)的能力大小和射線本身的波長(zhǎng)有關(guān),波長(zhǎng)越短(管電壓越高),其穿透能力越大,稱之為“硬”;反之則稱為“軟”。

十五、用超生波探傷時(shí),底波消失可能是什么原因造成的? 
      答:1、近表表大缺陷;2、吸收性缺陷;3、傾斜大缺陷;4、氧化皮與鋼板結(jié)合不好。

十六、影響顯影的主要因素有哪些? 
      答:1、顯影時(shí)間;2、顯影液溫度;3、顯影液的搖動(dòng);4、配方類型;5、老化程度。

十七、簡(jiǎn)述超生波探傷中,超生波在介質(zhì)中傳播時(shí)引起衰減的原因是什么? 
      答:1、超聲波的擴(kuò)散傳播距離增加,波束截面愈來(lái)愈大,單位面積上的能量減少。 
        2、材質(zhì)衰減一是介質(zhì)粘滯性引起的吸收;二是介質(zhì)界面雜亂反射引起的散射。

十八、CSK-ⅡA試塊的主要作用是什么? 
      答:1、校驗(yàn)靈敏度;2、校準(zhǔn)掃描線性。

十九.、用超生波對(duì)餅形大鍛件探傷,如果用底波調(diào)節(jié)探傷起始靈敏度對(duì)工作底面有何要求?
      答:1、底面必須平行于探傷面; 
        2、底面必須平整并且有一定的光潔度。

二十、超聲波探傷選擇探頭K值有哪三條原則? 
      答:1、聲束掃查到整個(gè)焊縫截面; 
        2、聲束盡量垂直于主要缺陷; 
        3、有足夠的靈敏度。

二十一、超聲波探傷儀主要有哪幾部分組成? 
      答:主要有電路同步電路、發(fā)電路、接收電路、水平掃描電路、顯示器和電源等部份組成。

二十二、發(fā)射電路的主要作用是什么? 
      答:由同步電路輸入的同步脈沖信號(hào),觸發(fā)發(fā)射電路工作,產(chǎn)生高頻電脈沖信號(hào)激勵(lì)晶片,產(chǎn)生高頻振動(dòng),并在介質(zhì)內(nèi)產(chǎn)生超聲波。

二十三、超聲波探傷中,晶片表面和被探工件表面之間使用耦合劑的原因是什么? 
      答:晶片表面和被檢工件表面之間的空氣間隙,會(huì)使超聲波完全反射,造成探傷結(jié)果不準(zhǔn)確和無(wú)法探傷。

二十四、JB1150-73標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的判別缺陷的三種情況是什么? 
      答:1、無(wú)底波只有缺陷的多次反射波。 
        2、無(wú)底波只有多個(gè)紊亂的缺陷波。 
        3、缺陷波和底波同時(shí)存在。

二十五、JB1150-73標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的距離――波幅曲線的用途是什么? 
      答:
      距離――波幅曲線主要用于判定缺陷大小,給驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)提供依據(jù)它是由判廢線、定量線、測(cè)長(zhǎng)線三條曲線組成; 
      判廢線――判定缺陷的最大允許當(dāng)量; 
      定量線――判定缺陷的大小、長(zhǎng)度的控制線;測(cè)長(zhǎng)線――探傷起始靈敏度控制線。

二十六、什么是超聲場(chǎng)? 
      答:充滿超聲場(chǎng)能量的空間叫超聲場(chǎng)。

二十七、反映超聲場(chǎng)特征的主要參數(shù)是什么? 
      答:反映超聲場(chǎng)特征的重要物理量有聲強(qiáng)、聲壓聲阻抗、聲束擴(kuò)散角、近場(chǎng)和遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)。

二十八、探傷儀最重要的性能指標(biāo)是什么? 
      答:分辨力、動(dòng)態(tài)范圍、水平線性、垂直線性、靈敏度、信噪比。

二十九、超聲波探傷儀近顯示方式可分幾種? 
      答:
      1、A型顯示示波屏橫座標(biāo)代表超聲波傳遞播時(shí)間(或距離)縱座標(biāo)代表反射回波的高度;
      2、B型顯示示波屏橫座標(biāo)代表超聲波傳遞播時(shí)間(或距離),這類顯示得到的是探頭掃查深度方向的斷面圖;
      3、C型顯示儀器示波屏代表被檢工件的投影面,這種顯示能繪出缺陷的水平投影位置,但不能給出缺陷的埋藏深度。

三十、超聲波探頭的主要作用是什么? 
      答:1、探頭是一個(gè)電聲換能器,并能將返回來(lái)的聲波轉(zhuǎn)換成電脈沖;
        2、控制超聲波的傳播方向和能量集中的程度,當(dāng)改變探 頭入射 角或改變超聲波的擴(kuò)散角時(shí),可使聲波的主要能量按不同的角度射入介質(zhì)內(nèi)部或改變聲波的指向性,提高分辨率;
            3、實(shí)現(xiàn)波型轉(zhuǎn)換;4、控制工作頻率;適用于不同的工作條件。

三十一、磁粉探頭的安全操作要求? 
      答:
      1、當(dāng)工件直接通過(guò)電磁化時(shí),要注意夾頭間的接觸不良、或用了太大的磁化電流引起打弧閃光,應(yīng)戴防護(hù)眼鏡,同時(shí)不應(yīng)在有可能燃?xì)怏w的場(chǎng)合使用;
      2、在連續(xù)使用濕法磁懸液時(shí),皮膚上可涂防護(hù)膏;
      3、如用于水磁懸液,設(shè)備 須接地良好,以防觸電;
      4、在用繭火磁粉時(shí),所用紫外線必須經(jīng)濾光器,以保護(hù)眼睛和皮膚。

三十二、什么是分辨率? 
      答:指在射線底片或熒光屏上能夠識(shí)別的圖像之間最小距離,通常用每1毫米內(nèi)可辨認(rèn)線條的數(shù)目表示。

三十三、什么是幾何不清晰度? 
      答:由半影造成的不清晰度、半影取決于焦點(diǎn)尺寸,焦距和工件厚度。

三十四、為什么要加強(qiáng)超波探傷合錄和報(bào)告工作? 
      答:任何工件經(jīng)過(guò)超聲波探傷后,都必須出據(jù)檢驗(yàn)報(bào)告以作為該工作質(zhì)量好壞的憑證,一份正確的探傷報(bào)告,除建立可靠的探測(cè)方法和結(jié)果外,很大程度上取決于原始記錄和最后出據(jù)的探傷報(bào)告是非常重要的,如果我們檢查了工件不作記錄也不出報(bào)告,那么探傷檢查就毫無(wú)意義。

三十五、磁粉探傷中為什么要使用靈敏試片? 
      答:使用靈敏試片目的在于檢驗(yàn)磁粉和磁懸液的性能和連續(xù)法中確定試件表面有效磁場(chǎng)強(qiáng)度和方向以及操作方法是否正確等綜合因素。

三十六、什么叫定影作用? 
      答:顯影后的膠片在影液中,分影劑將它上面未經(jīng)顯影的溴化銀溶解掉,同時(shí)保護(hù)住黑色金屬銀粒的過(guò)程叫定影作用。

三十七、著色(滲透)探傷的基本原理是什么? 
      答:著色(滲透)探傷的基本原理是利用毛細(xì)現(xiàn)象使?jié)B透液滲入缺陷,經(jīng)清洗使表面滲透液支除,而缺陷中的滲透殘瘤,再利用顯像劑的毛細(xì)管作用吸附出缺陷中殘瘤滲透液而達(dá)到檢驗(yàn)缺陷的目的。

三十八、著色(滲透)探傷靈敏度的主要因素有哪些? 
      答:1、滲透劑的性能的影響;2、乳化劑的乳化效果的影響;3、顯像劑性能的影響;4、操作方法的影響;5、缺陷本身性質(zhì)的影響。

三十九、在超聲波探傷中把焊縫中的缺陷分幾類?怎樣進(jìn)行分類? 
      答:在焊縫超聲波探傷中一般把焊縫中的缺陷 分成三類:點(diǎn)狀缺陷、線狀缺陷、面狀缺陷。
在分類中把長(zhǎng)度小于10mm的缺陷叫做點(diǎn)狀缺陷;一般不測(cè)長(zhǎng),小于10mm的缺陷按5mm計(jì)。把長(zhǎng)度大于10mm的缺陷叫線狀缺陷。把長(zhǎng)度大于10mm高度大于3mm的缺陷叫面狀缺陷。

四十、超聲波試塊的作用是什么? 
      答:超聲波試塊的作用是校驗(yàn)儀器和探頭的性能,確定探傷起始靈敏度,校準(zhǔn)掃描線性。

四十一、什么是斜探頭折射角β的正確值? 
      答:斜探頭折射角的正確值稱為K值,它等于斜探頭λ射點(diǎn)至反射點(diǎn)的水平距離和相應(yīng)深度的比值。

四十二、當(dāng)局部無(wú)損探傷檢查的焊縫中發(fā)現(xiàn)有不允許的缺陷時(shí)如何辦? 
      答:應(yīng)在缺陷的延長(zhǎng)方向或可疑部位作補(bǔ)充射線探傷。補(bǔ)充檢查后對(duì)焊縫質(zhì)量仍然有懷疑對(duì)該焊縫應(yīng)全部探傷。

四十三、非缺陷引起的磁痕有幾種? 
      答:1、局部冷 作硬化,由材料導(dǎo)磁變化造成的磁痕聚集;2、兩種不同材料的交界面處磁粉堆積;3、碳化物層組織偏析;4、零件截面尺寸的突變處磁痕;5、磁化電流過(guò)高,因金屬流線造成的磁痕;6、由于工件表面不清潔或油污造成的斑點(diǎn)狀磁痕。

四十四、磁粉檢驗(yàn)規(guī)程包括哪些內(nèi)容? 
      答:1、規(guī)程的適用范圍;2、磁化方法(包括磁化規(guī)范、工件表面的準(zhǔn)備);3、磁粉(包括粒度、顏色、磁懸液與熒光磁懸液的配制)。4、試片;5、技術(shù)操作;6、質(zhì)量評(píng)定與檢驗(yàn)記錄。

四十五、磁粉探傷適用范圍? 
      答:磁粉探傷是用來(lái)檢測(cè)鐵磁性材料表面和近表面缺陷的種檢測(cè)方法。

四十六、超聲波探傷儀中同步信號(hào)發(fā)生器的主要作用是什么?它主要控制哪二部分電路工作? 
      答:同步電路產(chǎn)生同步脈沖信號(hào),用以觸發(fā)儀器各部分電路同時(shí)協(xié)調(diào)工作,它主要控制同步發(fā)射和同步掃描二部分電路。

四十七、無(wú)損檢測(cè)的目地? 
      答:1、改進(jìn)制造工藝;2、降低制造成本;3、提高產(chǎn)品的可能性;4、保證設(shè)備的安全運(yùn)行。

四十八、超聲波焊縫探傷時(shí)為缺陷定位儀器時(shí)間掃描線的調(diào)整有哪幾種方法? 
      答:有水平定位儀、垂直定位、聲程定位三種方法。

四十九、試比較干粉法與濕粉法檢驗(yàn)的主要優(yōu)缺點(diǎn)? 
      答:干粉法檢驗(yàn)對(duì)近表面缺陷的檢出能力高,特別適于大面積或野外探傷;濕粉法檢驗(yàn)對(duì)表面細(xì)小缺陷檢出能力高,特別適于不規(guī)則形狀的小型零件的批量探傷。

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